köpa SN74BCT8374ADW med BYCHPS
Köp med garanti
SN74BCT8374ADW
- Artikelnummer:
- SN74BCT8374ADW
- Tillverkare:
- Beskrivning:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
- Ledningsfri status / RoHS-status:
- Blyfri / RoHS-kompatibel
- tillgänglig kvantitet:
- 12626 Pieces
- Datablad:
- SN74BCT8374ADW.pdf
Introduktion
BYCHIPS är strumpfördelaren för SN74BCT8374ADW, vi har lager för omedelbar frakt och även tillgänglig för lång tid leverans. Vänligen skicka oss din köpplan för SN74BCT8374ADW via e-post, vi ger dig det bästa priset enligt din plan.
Specifikationer
| Matningsspänning: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Leverantörs Device Package: | 24-SOIC |
| Serier: | 74BCT |
| Förpackning: | Tube |
| Förpackning / fall: | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Andra namn: | 296-33849-5 SN74BCT8374ADW-ND SN74BCT8374ADWE4 SN74BCT8374ADWE4-ND SN74BCT8374ADWG4 SN74BCT8374ADWG4-ND |
| Driftstemperatur: | 0°C ~ 70°C |
| Antal bitar: | 8 |
| Monteringstyp: | Surface Mount |
| Fuktkänslighetsnivå (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Tillverkarens normala ledtid: | 6 Weeks |
| Tillverkarens varunummer: | SN74BCT8374ADW |
| Logik typ: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Utvidgad beskrivning: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC |
| Beskrivning: | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
| Email: | [email protected] |
Relaterade delar till SN74BCT8374ADW
| Bild | Artikelnummer | tillverkare | Beskrivning | Se |
|---|---|---|---|---|
|
SN74BCT8374ANTG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Förfrågan |
|
SN74BCT8373ADWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Förfrågan |
|
SN74BCT8374ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Förfrågan |
|
SN74BCT8374ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Förfrågan |
|
SN74BCT8373ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Förfrågan |
|
SN74BCT8373ADWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Förfrågan |
|
SN74BCT8374ADWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Förfrågan |
|
SN74BCT8373ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | Förfrågan |
|
SN74BCT8373ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Förfrågan |
|
SN74BCT8374ADWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Förfrågan |
Latest News
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog