köpa SN74LVTH18652APM med BYCHPS
Köp med garanti
SN74LVTH18652APM
- Artikelnummer:
- SN74LVTH18652APM
- Tillverkare:
- Beskrivning:
- IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP
- Ledningsfri status / RoHS-status:
- Blyfri / RoHS-kompatibel
- tillgänglig kvantitet:
- 18335 Pieces
- Datablad:
- SN74LVTH18652APM.pdf
Introduktion
BYCHIPS är strumpfördelaren för SN74LVTH18652APM, vi har lager för omedelbar frakt och även tillgänglig för lång tid leverans. Vänligen skicka oss din köpplan för SN74LVTH18652APM via e-post, vi ger dig det bästa priset enligt din plan.
Specifikationer
| Matningsspänning: | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|
| Leverantörs Device Package: | 64-LQFP (10x10) |
| Serier: | 74LVTH |
| Förpackning: | Tray |
| Förpackning / fall: | 64-LQFP |
| Andra namn: | 296-12994-5 SN74LVTH18652APMG4 SN74LVTH18652APMG4-ND |
| Driftstemperatur: | -40°C ~ 85°C |
| Antal bitar: | 18 |
| Monteringstyp: | Surface Mount |
| Fuktkänslighetsnivå (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Tillverkarens normala ledtid: | 6 Weeks |
| Tillverkarens varunummer: | SN74LVTH18652APM |
| Logik typ: | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers |
| Utvidgad beskrivning: | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10) |
| Beskrivning: | IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP |
| Email: | [email protected] |
Relaterade delar till SN74LVTH18652APM
| Bild | Artikelnummer | tillverkare | Beskrivning | Se |
|---|---|---|---|---|
|
SN74LVTH18504APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Förfrågan |
|
SN74LVTH182512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP | Förfrågan |
|
SN74LVTH18646APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Förfrågan |
|
SN74LVTH16374GRDR | Texas Instruments | IC D-TYPE POS TRG DUAL 54BGA | Förfrågan |
|
SN74LVTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Förfrågan |
|
SN74LVTH18512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | Förfrågan |
|
SN74LVTH18511DGGR | Texas Instruments | IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP | Förfrågan |
|
SN74LVTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Förfrågan |
|
SN74LVTH18502APMR | Texas Instruments | IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | Förfrågan |
|
SN74LVTH18504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Förfrågan |
|
SN74LVTH18502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Förfrågan |
|
SN74LVTH18504APMR | Texas Instruments | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | Förfrågan |
|
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Förfrågan |
|
SN74LVTH18502APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Förfrågan |
|
SN74LVTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | Förfrågan |
|
SN74LVTH18514DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | Förfrågan |
|
SN74LVTH182502APMR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP | Förfrågan |
|
SN74LVTH182504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Förfrågan |
Latest News
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog